| 日本語 | 歩留まり解析 |
|---|---|
| English | Yield Analysis |
| 中文 | 良率分析 |
歩留まり解析とは
歩留まり解析は、不良がどの工程・設備・ロット・条件で発生しているかをデータから突き止め、歩留まり低下の原因を特定する分析です。検査結果、装置ログ、工程条件を製品単位でひも付けて比較するため、トレーサビリティの整備が前提になります。半導体分野ではウェハマップのパターン分類や機械学習による要因探索が広く使われています。
Definition (English)
Analysis that traces where yield loss occurs—by process, equipment, lot or condition—to identify root causes. It relies on linking inspection results, tool logs and process parameters to each unit.
释义（中文）
通过数据定位不良发生在哪个工序、设备、批次或条件下，从而找出良率下降原因的分析方法。前提是将检验结果、设备日志与工艺参数关联到每个产品。
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出典表記の例
株式会社サオス MFG-AI「製造業AI用語集：歩留まり解析」https://mfg-ai.com/terms/yield-analysis（CC BY 4.0）
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<blockquote cite="https://mfg-ai.com/terms/yield-analysis"> <p>歩留まり解析は、不良がどの工程・設備・ロット・条件で発生しているかをデータから突き止め、歩留まり低下の原因を特定する分析です。</p> <footer>出典：<a href="https://mfg-ai.com/terms/yield-analysis">株式会社サオス MFG-AI「製造業AI用語集：歩留まり解析」</a>（<a href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/deed.ja">CC BY 4.0</a>）</footer> </blockquote>
この記事を書いた人
DELMIA Apriso を中核とした MES / 製造DX の導入・運用・人材育成と、製造業向けAIの調査・開発・教育を手がけるITコンサルティング企業。ISO 9001:2015 / ISO 27001:2022 認証取得。 日本・中国・米国で製造業のMES・データ基盤・AI導入を手がけた実務者が、欧米・中国の一次情報にあたって書いています。